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計測機器の校正のご案内
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■価格案内 (定価)
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型式名
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品名
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校正価格
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定格・オブシ]ン等
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(円)
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三興計器
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SOKDAC320
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温度管理計
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11,000
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SOKDAC700
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温度管理計
|
11,000
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サンコウ電子研究所
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ELIC−EX
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膜厚計
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22,000
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SDM2010
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膜厚計
|
22,000
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SDM3000
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膜厚計
|
22,000
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|
SDM−mini
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膜厚計
|
22,000
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SDM−Pico
|
膜厚計
|
22,000
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|
SDM−PicoR
|
膜厚計
|
22,000
|
|
SL120C
|
膜厚計
|
22,000
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|
SL2C
|
膜厚計
|
22,000
|
|
SL5P
|
膜厚計
|
22,000
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|
SM4C
|
膜厚計
|
22,000
|
|
SMEl
|
膜厚計
|
22,000
|
|
SME100
|
膜厚計
|
22,000
|
|
TRD
|
ピンホール探知器
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22,000
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|
UNIBOY−E
|
膜厚計
|
22,000
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|
UNIBOY−M
|
膜厚計
|
22,000
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サンテック
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ECL200
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波長可変レーザー光源
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19,000
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OMT3100P−1310
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PDL測定装置
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77,000
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OTF300−15−06S
|
波長可変フィルタ
|
33,000
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OTF300−15−100D
|
波長可変フィルタ
|
33,000
|
|
OTF920
|
波長可変フィルタ
|
33,000
|
|
OTF930
|
波長可変フィルタ
|
33,000
|
|
TSL210/OPT1630
|
波長可変レーザー光源
|
37,000
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|
TSL210−131
|
波長可変レーザー光源
|
37,000
|
|
TSL210−155
|
波長可変レーザー光源
|
37,000
|
|
TSL210−1550−80−S−FC−S
|
波長可変レーザー光源
|
37,000
|
|
三和エムアイテクノス
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|
CAD2000H
|
自動コード試験器
|
11,000
|
|
CAD2H
|
自動コード試験器
|
18,000
|
|
CAD2L
|
自動コード試験器
|
12,000
|
|
CS20VB
|
自動式多線コード試験器
|
11,000
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|
OPM500
|
光ファイバIDテスタ
|
17,000
|
|
OPT200
|
光ファイバIDテスタ
|
17,000
|
|
WV505T
|
耐圧試験器
|
13,000
|
|
三和電気計器
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|
5501DM
|
絶縁抵抗計
|
7,000
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|
80C
|
デジタル静電容量測定器
|
7,000
|
|
AU32
|
アナログマルチメータ
|
8,000
|
|
CAM2500
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
CAM2丁∝)
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
CAM610R
|
クリップ電流計
|
8,000
|
|
CD130
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
CD7
|
デジタルマルチメータ
|
14,000
|
|
CD710C
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
CD720C
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
CD721
|
デジタルマルチメータ
|
14,000
|
|
CD731
|
デジタルマルチメータ
|
14,000
|
|
CD751
|
デジタルマルチメータ
|
14,000
|
|
CD780C
|
クリップ電流計
|
8,000
|
|
CD800
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
CDA701
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
CL22AD
|
クランプメータ
|
7,000
|
|
CP7D
|
テスタ
|
14,000
|
|
DA32
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
DA王氾C
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
DA54L
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
DCし10
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
DCM20AD
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
DCM2alD
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
DCM2L
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
DCM400
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
DCM仰ÅD
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
DCM60
|
クランプメータ
|
8,000
|
|
DCM600
|
クランプメータ
|
7,000
|
|
DG501
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DG501M
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DLC400A
|
クランプメータ
|
7,000
|
|
DM1527
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DM1528S
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DMIL
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DM500
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DM506
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DM508S
|
高絶縁抵抗測定器
|
7,000
|
|
3642HECL
|
波長可変光源(PHOTONETICS)
|
7,000
|
|
|
|
|
|
DM5218S
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DM5257
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
DRlOO
|
抵抗計
|
10,000
|
|
DRlOOOCV
|
デジタルオームメータ
|
10,000
|
|
EA714Nll
|
回転計
|
14,000
|
|
EC5A
|
テスタ
|
7,000
|
|
ED570C
|
デジタルマルチメータ
|
10,000
|
|
EM800
|
エレクトロテスタ
|
8,000
|
|
FD730C
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
KIT7D
|
テスタ
|
8,000
|
|
LD520H
|
デジタルマルチメータ
|
14,000
|
|
MD150C
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
MD250C
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
PClO
|
デジタルマルチメータ
|
7,000
|
|
PClOl
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
PC20
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
PC500
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
PC5000
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
PC510
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
PDM506S
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
PDM507PK
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
PDM508S
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
PDR200DG
|
接地抵抗計
|
7,000
|
|
PMlO
|
テスタ
|
7,000
|
|
SElOO
|
回転計
|
7,000
|
|
SLM15R
|
クランプメータ
|
7,000
|
|
SLM20R
|
クランプメータ
|
7,000
|
|
SPlOD
|
テスタ
|
7,000
|
|
SP15D
|
テスタ
|
7,000
|
|
SP18D
|
テスタ
|
7,000
|
|
SP18E
|
テスタ
|
7,000
|
|
T50BZ
|
テスタ
|
7,000
|
|
TClO
|
テスタ
|
7,000
|
|
∪70D
|
絶縁抵抗計
|
7,000
|
|
UX45TR
|
テスタ
|
7,000
|
|
WV505T
|
耐圧試験器
|
15,000
|
|
XD760CA
|
デジタルマルチメータ
|
8,000
|
|
YX361TR
|
テスタ
|
8,000
|
|
GN Nettest
|
|
|
|
87131−10
|
光ファイバアナライザ
|
61,000
|
|
87481−21
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
|
87484−20
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
|
87484−23
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
|
87484−30
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
|
87484−40
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
|
87484−XO
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
|
87582−13
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
|
87582−30
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
|
87584−33
|
光ファイバアナライザ
|
72,000
|
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NIST標準試料 NIST標準物質
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